GT2100A 数字集成电路多参数测试仪，利用独创的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试的同时完成各项直流参数测试。GT2100A完全可以满足IC用户的参数测试要求。GT2100A是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的测试仪器。

功能测试、测量数据、管脚选择、数据比较等均由CPU完成，不需过多的人工干预。只需简单且较少的按键操作就能得到您所关心的芯片参数，或优劣程度。免去使用各种接线盒来适配各种不同的运放/比较器的烦恼。测试操作简单，功能齐全，可按需要选取测量参数，测量结果不受人为因素影响。

*器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。 *器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型。 *器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。 *器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。

VI曲线分析测试几乎适用于任何类型的器件。可采用各种规格的测试夹多点测试或VI探棒单点测试，不受器件封装形式的限制，应用范围极广。相对于传统工具，VI曲线分析测试在测试效率、精确度和信息量等方面都有巨大的优势。

三端器件多指三极管、场效应管、可控硅、光耦、继电器等，共同特点是：在控制端上施加控制信号后，可以控制其导通与截止的状态。根据这种特性，在对三端器件控制端施加控制信号时，通过观察其另两端之间VI曲线的变化，可以判断三端器件是否进入预期状态，从而确定其功能好坏。