最大测试IC管脚数:128pin,可以升级到192/256管脚;扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波;6种扫描频率选择：100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz；扫描电压(Vs):-20~+20V 步进0.1V;

最大测试IC管脚数:192pin,可以升级到256管脚;扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波;6种扫描频率选择：100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz；扫描电压(Vs):-20~+20V 步进0.1V;

最大测试IC管脚数:256pin;扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波;6种扫描频率选择：100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz；扫描电压(Vs):-20~+20V 步进0.1V;

GT2100A 数字集成电路多参数测试仪，利用独创的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试的同时完成各项直流参数测试。GT2100A完全可以满足IC用户的参数测试要求。GT2100A是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的测试仪器。

功能测试、测量数据、管脚选择、数据比较等均由CPU完成，不需过多的人工干预。只需简单且较少的按键操作就能得到您所关心的芯片参数，或优劣程度。免去使用各种接线盒来适配各种不同的运放/比较器的烦恼。测试操作简单，功能齐全，可按需要选取测量参数，测量结果不受人为因素影响。

*器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。 *器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型。 *器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。 *器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。

显示:6×1字LCD;试元件接脚数:4到24PIN;试电压:5V;为测试线性IC而设计;可测元件:OP、Operationgal;Amplifiers、OPTO、Comparattors、REG\N555 Series、Transistor Array轻小可携带,操作容易,可使用电池，非常省电，碱性电池可连续使用1000小时,平均测试时间:0.8秒;设有empty-load测试及设有自动电源开关装置;

为测试数字IC而设计;可测试元件:TTL54/74,CMOS 40/45,DRAM 41/44;轻小可携带,操作容易,可使用电池,非常省电;设有empty-load测试及自动电源开关装置;平均测试时间:0.8秒;显示:16×1字LCD;测试元件接脚数:14到24PIN选择配件:*SOP adaptor;