集成电路及电路板的标准测试功能;数字及模拟集成电路的功能测试;动态及静态测试;适合单点量测;自动化测试程序;可由使用者设计的操作软件;

测试通道数:64通道(可扩展到256通道);总线隔离信号信道数:4通道or 8通道;实时比对功能:需有二个64通道,或128通道;输出驱动电压:TTL/CMOS 标准;输出驱动电流:电流依不同的逻辑电平阈值有下列区分;

量测通道:24 多任务信道+2实时对比通道+2同步脉冲信号信道;信号电压范围:2 V to 50 V peak to peak电压分辨率:8 to 12 bits;信号频率范围:37.5 Hz to 12 kHz;

宽:>100MHz;采样率:50MS/s (5GS/s ERS 模式);通道数:2通道+外部触发通道;耦合模式:AC,DC,GND;输入阻抗:1M Ω,25pF; 电压灵敏度:20mV to 2V /div;

电压输出范围:2.5V ～ 6V 可编程;最小调整分辨率:0.01V;过电压范围:3V ～ 7V 可编程电平阈值;最小调整分辨率:0.1V输出电流值:5A;短路电流:7A;短路时间:无期限(自动恢复);

VI曲线分析测试几乎适用于任何类型的器件。可采用各种规格的测试夹多点测试或VI探棒单点测试，不受器件封装形式的限制，应用范围极广。相对于传统工具，VI曲线分析测试在测试效率、精确度和信息量等方面都有巨大的优势。

三端器件多指三极管、场效应管、可控硅、光耦、继电器等，共同特点是：在控制端上施加控制信号后，可以控制其导通与截止的状态。根据这种特性，在对三端器件控制端施加控制信号时，通过观察其另两端之间VI曲线的变化，可以判断三端器件是否进入预期状态，从而确定其功能好坏。

⑴[在线测试] 用测试夹卡住被测数字IC，GR系列测试仪依照被测IC在电路板上的实际自身连接关系自动生成并施加测试代码，再取回其实际响应。将实际响应和理论值进行对比，即可发现功能失效的故障器件。直观显示IC自身连接和功能好坏等测试信息以及每一输出管脚对应的测试代码、实际响应和理论代码，便于迅速缩小电路板故障范围。