VI曲线分析测试几乎适用于任何类型的器件。可采用各种规格的测试夹多点测试或VI探棒单点测试，不受器件封装形式的限制，应用范围极广。相对于传统工具，VI曲线分析测试在测试效率、精确度和信息量等方面都有巨大的优势。

三端器件多指三极管、场效应管、可控硅、光耦、继电器等，共同特点是：在控制端上施加控制信号后，可以控制其导通与截止的状态。根据这种特性，在对三端器件控制端施加控制信号时，通过观察其另两端之间VI曲线的变化，可以判断三端器件是否进入预期状态，从而确定其功能好坏。

⑴[在线测试] 用测试夹卡住被测数字IC，GR系列测试仪依照被测IC在电路板上的实际自身连接关系自动生成并施加测试代码，再取回其实际响应。将实际响应和理论值进行对比，即可发现功能失效的故障器件。直观显示IC自身连接和功能好坏等测试信息以及每一输出管脚对应的测试代码、实际响应和理论代码，便于迅速缩小电路板故障范围。

Huntron Tracker 2700开拓了在关闭电源的情况下测试低电压逻辑电路的能力。其低压范围使其能理想地对一些电路中即使有高电容值的被动元器件也能进行测试。源电压，源电阻及测试频率都清楚表明在前面板上。内建0-5伏DC电压发生器能够作为门极驱动源来驱动。

Huntron Tracker 2700S开拓了在关闭电源的情况下测试低电压逻辑电路的能力。其低压范围使其能理想地对一些电路中即使有高电容值的被动元器件也能进行测试。Tracker 2700S可用标准的IC夹具和导线，来进行多信道的扫描比对，最多可至40个引脚。